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  2. m.instrument.com.cn › webinar › meetings半导体新材料表征及制程监控技术与应用_网络讲堂_仪器信息网簡

    HORIBA集团，作为全球检测及分析技术领先供应商，可为半导体产业提供多种研究、分析及检测控制技术。 在 材料表征技术方面，可为新材料开发及QC检测提供多种分析技术 ，重点包括： 膜厚、晶型、应力、缺陷、杂质、元素含量以及器件结温表征等。 在制程监控环节， HORIBA的精密监测及控制系统在半导体产业也有着几十年的成熟技术与解决方案 ，如：质量流量控制、化学药液浓度监测、终点检测及光掩模颗粒检测等技术，此外，还可提供水质及气体等环境成分检测方案。 本次讲座我们将就HORIBA在 材料表征 及 制程监控 两大方面，由7位专家及资深学者为您进行分享。 来自HORIBA集团各事业部的4位资深技术专家将为您带来HORIBA在半导体领域的最新技术和解决方案，让您了解当下新技术的发展与应用。

  3. m.instrument.com.cn › download › StandardDetail_291745用飞行时间二次离子质谱法说明质谱数据获取的标准指南簡

    用飞行时间二次离子质谱法说明质谱数据获取的标准指南 ASTM E2695-2009200971.040.50用飞行时间二次离子质谱法说明质谱数据获取的标准指南Standard Guide for Interpretation of Mass Spectral Data Acquired with Time-of-Flight Secondary Ion Mass SpectroscopyV04

  4. m.instrument.com.cn › webinar › meetings第七届 电子显微学网络会议（iCEM 2021）_网络讲堂_仪器信息网 - ... 簡

    直播时间 06月22日 09:00 - 06月25日 18:00. 大会介绍. 电子显微学网络会议（iConference on Electron Microscopy,iCEM）由仪器信息网于2015年在业内首次发起，旨在促进中国电子显微学领域仪器技术及前沿科学研究的发展，利用互联网技术为国内的广大电子显微学科研及相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到电子显微学专家的精彩报告，节省时间和资金成本。 2021年6月22-25日，由 仪器信息网 ( www.instrument.com.cn) 主办， 中国电子显微镜学会 （ www.china-em.cn ）协办的 “第七届电子显微学网络会议 (iCEM 2021)” 将继续线上举办。

  5. m.instrument.com.cn › bbs › d-5247371-1【求助】现在直读光谱仪的检出限如何？_直读光谱_仪器社区_仪器 ... 簡

    你能花多少钱 要这种检出限 进口的一般的达不到你那个精度要求 得二般做 都比较困难sonne86400(sonne86400) 发表: 你能花多少钱 要这种检出限 进口的一般的达不到你那个精度要求 得二般做 都比较困难

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