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  1. zhuanlan.zhihu.com › p › 646820128SEM干货知识｜扫描电子显微镜SEM与EDX能谱分析 - 知乎簡

    扫描电子显微镜 (SEMs)已成为功能强大、用途广泛的材料表征工具，尤其是近年来，各种应用中使用的材料尺寸也在不断缩小。 电子显微镜利用电子成像，类似于光学显微镜使用可见光成像。 透射电子显微镜 (TEMs)可以检测穿过极薄样品的电子来成像，与其不同的是，扫描电子显微镜是利用反射或撞击扫描样品近表面区域的电子来产生图像。 由于电子的波长远小于光的波长，所以扫描电子显微镜的分辨率要高于光学显微镜的分辨率。 扫描电子显微镜的工作原理. 在扫描电子显微镜中，电子束以栅网模式扫描样品。 首先，电子枪在镜筒顶部生成电子。 当电子的热能超过了源材料的功函数时，就会被释放出来，然后它们加速向带有正电荷的阳极高速移动。 扫描电子显微镜的基本构造. 整个电子镜筒必须处于真空状态。

  2. www.thermofisher.com › blog › materialsEDX Analysis - SEM - EDS Analysis - Advancing Materials - ...

    • Edx Analysis How Does It Work?
    • X-Rays Generated by Electron Beam Interaction
    • Utility of Edx Analysis

    Using EDX, researchers can quickly generate information about the chemical composition of a sample, including what elements are present as well as their distribution and concentration. But how exactly does EDX work? With an SEM, a variety of signals offer up different information about a given sample. For example, backscattered electrons produce im...

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    The way EDX analysis works is that the electron beam hits the inner shell of an atom, knocking off an electron from the shell, while leaving a positively charged electron hole. When the electron is displaced, it attracts another electron from an outer shell to fill the vacancy. As the electron moves from the outer higher-energy to the inner lower-e...

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    Interestingly, EDX can be used for both qualitative and quantitative analysis, enabling users to identify both the type of elements that are present as well as the percentage of each element’s concentration within the sample. And as with traditional SEM, the technique requires little to no sample preparation and is non-destructive, meaning that it ...

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  3. 影片

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  4. en.wikipedia.org › wiki › Energy-dispersive_X-ray_spectroscopyEnergy-dispersive X-ray spectroscopy - Wikipedia

    High Voltage: SEM-EDX operates at high voltages (typically several kilovolts), which can pose a risk of electric shock. X-ray Radiation: While SEM-EDX does not use as high a voltage as some X-ray techniques, it still produces X-rays that can be harmful with prolonged exposure. Proper shielding and safety measures are necessary.

  5. www.kctech.com.tw › 如何使用掃描式電子顯微鏡sem如何使用掃描式電子顯微鏡(SEM)進行EDX元素分析

    2020年8月3日 · 掃描式電子顯微鏡 (SEM)中EDS的原理. 每個原子都有一個獨特的電子數，它們存在於常態下之特定位置，如圖2所示。 這些位置屬於特定的軌道，它們擁有不同的、離散的能量。 SEM中X射線的生成一共有兩個步驟。 在第一步中，電子束撞擊樣品並將部分能量轉移到樣品的原子上。 這種能量可以被原子的電子用來“跳躍”到具有更高能量的能量軌道，或者是脫離原子。 如果發生這樣的轉變，電子就會留下一個空位。 空位相當於一個正電荷，而這個過程的第二步，空位會吸引來自高能量軌道的電子填補進來。 當這樣一個高能量軌道的電子填滿了低能量軌道的空位時，這種轉換的能量差能夠以X射線的形式釋放出來。 X射線的能量是通過這兩個軌道之間能量差的特徵所展現出來的。 它取決於原子序數，原子序數是每個元素唯一的屬性。

  6. www.thermofisher.com › industrial › edx-analysis-semEDX Analysis with a Scanning Electron Microscope (SEM): How ...

    Scanning electron microscopes (SEMs) employ electron beams in order to get information from a sample at the nanoscale. The main type of signals that are detected are the backscattered (BSE) and secondary electrons (SE), which generate a grayscale image of the sample at very high magnifications.

  7. 其他人也問了

  8. zh.wikipedia.org › zh-tw › 能量色散X射线谱能量色散X射線譜 - 維基百科，自由的百科全書

    X射線探測器. 脈衝處理器. 分析儀 [3] 電子束激發源被用於 電子顯微鏡 、 掃描電子顯微鏡 和掃描 透射電子顯微鏡 中，而X射線激發源被用於 X射線螢光光譜儀 中。 X射線探測器可將X射線能量轉換為電信號；信號隨後被發送至脈衝處理器進行測量並傳送到分析儀進行分析。 過去最常見的探測器是矽鋰（SiLi）探測器，需要用 液氮 冷卻才能工作。 如今的新系統常配置 矽漂移探測器 （英語：silicon drift detectors） ，計數速度更快，且僅需在 熱電冷卻 （甚至於室溫）下就可以工作。 [4] 其他相關技術[編輯] 能量色散X射線譜的原理. 高能階的電子在填充低能階的電洞時所出現的能量差不一定都以X射線的形式放出，也可以轉嫁給另一外層電子，使其獲得足夠的能量而逸出原子。